An international forum for academics, industrialists and engineers to publish the latest research in surface topography measurement and characterisation, instrumentation development and the properties of surfaces.
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- 期刊名： Surface Topography-Metrology and Properties
- 期刊名缩写：SURF TOPOGR-METROL
- 期刊ISSN：2051-672X
- E-ISSN：2051-672X
- 2025年影响因子/JCR分区：2.4/Q2 查看近年IF趋势图
- 5年平均影响因子：2.2
- 学科分类与版本：ENGINEERING, MECHANICAL - SCIE; INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION - SCIE; MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY - SCIE
- 出版周期：
- 出版年份：0
- 出版国家或地区：United Kingdom
- 出版商：IOP Publishing Ltd
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- 论著文章占比：98.00% [论著 ÷（论著 + 综述）]
- 是否OA开放访问：No
- Gold OA文章占比：4.76%
- 官方网站：iopscience.iop.org/journal/2051-672X
- 投稿网址：mc04.manuscriptcentral.com/stmp-iop
- 编辑部地址：TEMPLE CIRCUS, TEMPLE WAY, BRISTOL, ENGLAND, BS1 6BE
《Surface Topography-Metrology and Properties》中科院JCR分区
| 大类 | 小类学科 | Top | 综述期刊 | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 工程技术 4区 |
| 否 | 否 |
| 大类 | 小类学科 | Top | 综述期刊 | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 材料科学 3区 |
| 否 | 否 |
《Surface Topography-Metrology and Properties》期刊简介：
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《Surface Topography-Metrology and Properties》评估说明
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