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薄膜铁电光电存储器芯片

薄膜铁电光电存储器芯片。新加坡国立大学龚萧教授团队在Light: Science Applications期刊上发表一项了题为Thin film ferroelectric photonic-electronic memory ...... 查看全文

基于单帧激光散斑的无损颗粒度检测

基于单帧激光散斑的无损颗粒度检测。相干光经过粗糙表面的散射会形成激光散斑,因此激光散斑中蕴含了表面粗糙度的信息。如何高速、精确的从激光散斑中反解出粗糙表 ...... 查看全文

芯片级光参量振荡填补绿光缺口

芯片级光参量振荡填补绿光缺口。近日,美国国家标准与技术研究院和马里兰大学联合量子研究所的科学家团队通过利用氮化硅微环中的克尔光参量振荡技术,成功填补了绿光 ...... 查看全文

极紫外光计算成像技术检测芯片缺陷

极紫外光计算成像技术检测芯片缺陷。芯片缺陷检测是半导体生产中至关重要的一环。荷兰代尔夫特理工大学与乌得勒支大学的科学家们最近使用创新的成像技术,利用极紫 ...... 查看全文